概述
導波雷達物位計,,可發(fā)射高頻率微波,,沿著探桿傳播,由于遇到被測介質,,介電常數(shù)突變,,引起反射。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質的距離成正比,。同時,,導波雷達物位計也可以測量兩種不同介質的界面,充分利用介質的介電常數(shù)的不同,。但測量條件是上層介質不導電,,或其介電常數(shù)比下層介質介電常數(shù)小10倍以上。脈沖的工作方式可測量小介電常數(shù)介質,,并安全適用于各種金屬,、非金屬容器內,對人體及環(huán)境無傷害,。廣泛應用于煤廠,、電廠、石油化工和食品等行業(yè),。
產品特點
可以測量介電常數(shù)大于等于1.4的大多數(shù)介質,。
適用于測量粘稠液體,或溫度和壓力變化大的場合,。
適用于測量明顯的揮發(fā)性氣體介質,。
可用于泡沫、掛壁和結垢,、表面波動,、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料,、超低液位工況,。
介電常數(shù)或比重變化的介質應用場合。
用于固體顆粒,、粉末介質,。
粉塵飛揚大的介質。